天津市計量院長度計量技術(shù)研究部新建微納米檢測領(lǐng)域社會公用計量標準
近日，天津市計量院長度計量技術(shù)研究部新建的“掃描電子顯微鏡校準裝置”社會公用計量標準順利通過市市場監(jiān)管委考核。標準器配置一維柵格、二維柵格，已建立掃描電子顯微鏡(SEM)校準裝置計量標準，測量范圍為(100～2000)nm；配置的臺階高度樣板，測量范圍為(20nm～20μm)，可提供掃描探針顯微鏡(SPM)、原子力顯微鏡(AFM)、掃描隧道顯微鏡(STM)、臺階儀等儀器的校準服務(wù)；配置的6種能譜元素標樣，可提供能譜儀器的測試服務(wù)。該項社會公用計量標準的建立對提升天津地區(qū)微納米測試領(lǐng)域校準能力具有重要意義，填補了地區(qū)微納米測試領(lǐng)域的空白。 
(圖片來源：天津市計量院)
目前，納米科學技術(shù)已經(jīng)成為全球研究的熱點領(lǐng)域之一，無論在基礎(chǔ)前沿研究還是在高新產(chǎn)業(yè)應(yīng)用中均具有重要意義。掃描電子顯微鏡利用聚焦的電子束在樣品表面逐點掃描，電子與樣品作用產(chǎn)生二次電子信號以及背散射電子信號，由此獲得表面形貌圖像，可以達到納米級的分辨力。市計量院配置一維二維柵格標準器、臺階高度樣板等多種計量標準器后，將初步建立并進一步完善本地區(qū)的納米幾何特征參量量值溯源體系。
我國在納米技術(shù)領(lǐng)域的科學技術(shù)研究位居國際前列，納米技術(shù)相關(guān)產(chǎn)業(yè)正處在快速發(fā)展上升時期。市計量院長度計量技術(shù)研究部主要負責同志表示，將深入學習貫徹黨的二十屆三中全會精神，立足檢測市場需求，持續(xù)強化創(chuàng)新力度，不斷推動計量事業(yè)實現(xiàn)高質(zhì)量發(fā)展。同時，歡迎全國各方計量同仁來電咨詢，洽談合作事宜。
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