光學(xué)測(cè)量的新紀(jì)元：速度、精度和可探測(cè)性，改寫(xiě)了業(yè)界的掃描規(guī)則！

日前，?？怂箍涤?jì)量發(fā)布HP-O技術(shù)解決方案 — 基于調(diào)頻干涉式光學(xué)測(cè)距技術(shù)，為固定式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)所提供的新型光學(xué)掃描技術(shù)。

HP-O提供了與觸發(fā)式掃描測(cè)頭相媲美的精度與可靠性，同時(shí)提供了更快的掃描速度、擴(kuò)大的測(cè)量范圍，并擁有通用光學(xué)非接觸測(cè)量的優(yōu)勢(shì)。如果需要的掃描測(cè)量，而觸發(fā)測(cè)頭難以接近工件，或者零部件會(huì)在觸發(fā)探測(cè)過(guò)程中變形或受損，HP-O將是高精度觸發(fā)掃描的替代選擇。

HP-O解決方案支持多傳感器測(cè)量：借助測(cè)頭更換架，多個(gè)光學(xué)測(cè)頭和觸發(fā)測(cè)頭可以在一個(gè)程序中互換。光學(xué)測(cè)頭可用于單點(diǎn)檢測(cè)和在開(kāi)放循環(huán)模式中的3軸或4軸掃描測(cè)量。該解決方案提供了一個(gè)完整的測(cè)量系統(tǒng)，包含QUINDOS測(cè)量軟件 和Leitz PMM-C高精度測(cè)量機(jī)。

HP-O的新型輕型測(cè)頭擁有± 30°的接收角度，重復(fù)性小于0.3 μm。HP-O的*優(yōu)勢(shì)還包括：

• 非接觸測(cè)量：使得零件免受任何機(jī)械損傷，可避免測(cè)針磨損，同時(shí)零件不需要任何噴涂標(biāo)記。
• 測(cè)頭直徑只有3 mm，測(cè)量范圍高達(dá)20 mm，能夠接觸到觸發(fā)測(cè)頭難以到達(dá)的特征。
• 減少機(jī)械探測(cè)的局限性，實(shí)現(xiàn)的數(shù)據(jù)采集，提供了更快的掃描速度。
• 空間分辨率高，完成zui小細(xì)節(jié)乃至微觀尺寸的測(cè)量。
• 以高點(diǎn)密度簡(jiǎn)便的獲得特征信息。

“很多人希望通過(guò)光學(xué)測(cè)量解決觸發(fā)探測(cè)方式的局限性，例如損傷敏感的零件表面，”Ingo Lindner，?？怂箍涤?jì)量的產(chǎn)品線說(shuō)。“然而，光學(xué)傳感器往往難以整合到三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的標(biāo)準(zhǔn)工作流程中，因此，光學(xué)測(cè)頭僅僅使用在特殊情況下?，F(xiàn)在，隨著?？怂箍涤?jì)量三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)專(zhuān)門(mén)配備的HP-O解決方案的發(fā)布，我們相信找到了于其他測(cè)量系統(tǒng)的高精密光學(xué)掃描方案。”