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捷歐路JEOL JEM-2800 高通量電子顯微鏡

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產(chǎn)品簡介

捷歐路JEOL JEM-2800 高通量電子顯微鏡是一臺性能，能兼顧高分辨率觀察和快速分析的TEM/STEM裝置。捷歐路JEOL JEM-2800 高通量電子顯微鏡采用新設計的電子光學系統(tǒng)，能兼顧高分辨率觀察和高通量分析，觀察模式如TEM（透射像）、STEM（掃描透射像）、SEM（二次電...

詳細介紹

捷歐路JEOL JEM-2800 高通量電子顯微鏡是一臺性能，能兼顧高分辨率觀察和快速分析的TEM/STEM裝置。

捷歐路JEOL JEM-2800 高通量電子顯微鏡采用新設計的電子光學系統(tǒng)，能兼顧高分辨率觀察和高通量分析，觀察模式如TEM（透射像）、STEM（掃描透射像）、SEM（二次電子像）及ED（電子衍射）模式可在瞬間相互切換，還能在明亮的房間觀察圖像。此外，掃描圖像模式可以同時觀察STEM-BF像、STEM-DF像和二次電子像。利用這些功能，操作者可根據(jù)目的，利用感興趣的觀察模式快速獲得從大范圍的樣品結(jié)構(gòu)到亞納米的晶格像。捷歐路JEOL JEM-2800 高通量電子顯微鏡具有電鏡觀測所需要操作的各種自動功能（自動襯度/亮度調(diào)整、樣品高度（Z）調(diào)整、自動晶帶軸調(diào)整、自動聚焦及自動消象散），這些功能可以使操作者不受熟練程度影響，獲取重現(xiàn)性好的數(shù)據(jù)。此外，由于標準配置了渦輪分子泵，換樣時間縮短為30秒鐘后。為使初學者也能夠放心地正確操作，還標準配置JEM-Navi™用戶導航系統(tǒng)，提供獲取數(shù)據(jù)所需要的操作指南和視頻。

捷歐路JEOL JEM-2800 高通量電子顯微鏡不僅可以進行高分辨的觀察，還能進行高通量的元素分析，由于采用日本電子制造的100mm²大面積硅漂移檢測器（Silicon Drift Detector：SDD）*1，能夠獲得0.95sr 的大固體角，可以進行高速高效的X射線分析并且不犧牲電子顯微鏡的功能。此外，為了能在短時間內(nèi)獲得準確的分析結(jié)果，JEM-2800能根據(jù)樣品及分析方法選擇的束班直徑。

捷歐路JEOL JEM-2800 高通量電子顯微鏡采用總體數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)，能夠迅速生成分析結(jié)果報告。JEM-2800獲取的圖像和分析數(shù)據(jù)通過LAN（局域網(wǎng)）會自動傳送到數(shù)據(jù)集成管理軟件（Image Center*2）。此外，從PC客戶終端訪問，可以高效率執(zhí)行測長（使用Image Excite*2）及粒徑分析（使用Region Gauge Center*2），通過數(shù)據(jù)整理軟件（Image Import※2）能簡便地生成報告書。

分辨率
二次電子像	≦0.5nm（加速電壓200kV） ≦1.0nm（加速電壓100kV）
掃描透射像	0.16nm（加速電壓200kV）
透射像（晶格分辨率）	0.1nm（加速電壓200kV） 0.2nm（加速電壓100kV）
倍率（24英寸寬屏液晶顯示器）
二次電子像	X100～X150,000,000
掃描透射像	X100～X150,000,000
透射像	X500～X20,000,000
電子槍
電子槍	肖特基場發(fā)射電子槍
加速電壓	200kV、100kV
[樣品系統(tǒng)]
樣品臺	全對中側(cè)插式測角樣品臺
樣品尺寸	3mmΦ
傾斜角	X軸：±25° Y軸：±30°使用（雙傾樣品桿時）
移動范圍	X,Y: ±1mm Z: ±0.2mm（馬達驅(qū)動／壓電驅(qū)動）
[選配件]
	能譜儀（EDS）電子能量損失譜儀（EELS） CCD數(shù)碼相機系統(tǒng) TEM/STEM三維斷層掃描系統(tǒng)